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引发问题的可能原因 |
所在位置及鉴别方式 |
解决方法 |
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金属氧化物污染 |
-分析日常SDI测试膜截留物质
-通过分析清洗液中金属离子
-解剖分析被污染膜元件 |
-对金属氧化污染物进行清洗
-改善预处理工艺和运行条件 |
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胶体污染 |
-分析日常SDI测试膜截留物质
-解剖分析被污染膜元件 |
-采用含有脂类洗涤剂清洗
-改善预处理工艺和运行条件 |
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无机盐污垢 |
-校核浓水LSI指数和可能生成的难溶物溶度及测试
-解剖分析被污染的典型膜元件 |
-针对具体情况选择合适的清洗剂清洗
-选择更有效的阻垢/分散药剂投加
-改善预处理系统 |
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淤泥污染 |
-监测预处理系统后的进水NTU
-解剖分析被污染的典型膜元件 |
-改善预处理系统
-利用HF和胶体清洗液清洗 |
